基于電子穩(wěn)像技術的線陣CCD成像空間校正方法研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、近年來，線陣CCD及其應用技術的研究取得了驚人的進展，在產品的高速非接觸檢測，在線分級與加工，表面質量評定，數據高速采集等領域占有重要地位。國內外學者對線陣CCD成像技術進行了大量研究，使得其成像技術日趨完善。針對現有線陣CCD成像空間校正方法的不足，本課題提出了基于電子穩(wěn)像技術的線陣CCD成像空間校正方法。
　　 論文首先闡述了現有的幾種線陣CCD成像校正方法，討論了其中的關鍵技術，并分析了各種方法的優(yōu)缺點。接著介紹了電子穩(wěn)像

2、技術的基本原理，基本方法和處理過程，重點探討了幾種常見的典型算法。最后提出了基于電子穩(wěn)像技術的線陣CCD成像空間校正方法。此方法采用了電子穩(wěn)像技術的思想，但又不等同于傳統(tǒng)的電子穩(wěn)像技術。該方法首先對線陣CCD得到的圖像進行彩色圖像分離，接著對分離后的紅色、綠色、藍色分量圖像進行特征點提取，特征點匹配，錯位參數估計，從而獲得圖像的運動參數矩陣，然后進一步通過圖像補償，彩色圖像合成等過程，最終獲得校正后的彩色圖像。課題研究過程中，在PC機上

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