學(xué)習(xí)困難學(xué)生錯誤記憶的研究.pdf

1、目前大量的研究來試圖揭示學(xué)習(xí)困難學(xué)生的記憶特點(diǎn)，以往的研究表明了學(xué)習(xí)困難學(xué)生的長時記憶、短時記憶、工作記憶等都存在著缺陷，而錯誤記憶作為記憶系統(tǒng)的一種，卻很少有研究涉及，本研究試圖考察學(xué)困生的錯誤記憶。
　　 一般來說，一個人錯誤的聲明一個未曾發(fā)生過的事件是他見過時就認(rèn)為錯誤記憶發(fā)生了。國內(nèi)外已經(jīng)有大量的研究表明語義聯(lián)系可以產(chǎn)生錯誤記憶，而語音聯(lián)系引發(fā)的錯誤記憶研究相對較少，并且語音聯(lián)系引發(fā)的錯誤記憶的研究目前較多局限于英文狀態(tài)

2、下，而漢語的語音字形結(jié)構(gòu)和英文不同，但漢語實(shí)驗(yàn)材料是否同樣能引發(fā)錯誤記憶，目前國內(nèi)的研究有著不同的結(jié)論。本研究設(shè)計兩個實(shí)驗(yàn)來對比不同類型學(xué)困生的錯誤記憶，本研究實(shí)驗(yàn)一采用漢語語音聯(lián)系字為實(shí)驗(yàn)材料，試圖研究漢語語音聯(lián)系是否能產(chǎn)生錯誤記憶。同時在實(shí)驗(yàn)一的基礎(chǔ)上設(shè)計實(shí)驗(yàn)二以語義聯(lián)系詞為實(shí)驗(yàn)材料，揭示在不同加工深度上錯誤記憶的產(chǎn)生。
　　 以往的研究發(fā)現(xiàn)工作記憶容量影響錯誤記憶，而學(xué)困生的工作記憶容量低于正常兒童，并且在不同類型的學(xué)困生

3、工作記憶缺陷不同，數(shù)學(xué)學(xué)習(xí)困難學(xué)生在言語工作記憶、視空間模板、中央執(zhí)行功能都存在著缺陷，與語文數(shù)學(xué)學(xué)習(xí)困難學(xué)生言語工作記憶缺陷不同，數(shù)學(xué)學(xué)習(xí)困難學(xué)生的言語工作記憶缺陷主要表現(xiàn)在與數(shù)學(xué)問題解決密切相關(guān)的計算廣度和運(yùn)算詞語廣度的不足。本研究結(jié)果發(fā)現(xiàn)學(xué)習(xí)困難學(xué)生的語音語義聯(lián)系詞均高于正常學(xué)生組，并且語困生和雙困生差異不顯著，顯著高于數(shù)困組和正常學(xué)生組；學(xué)困生和語音聯(lián)系詞沒有交互作用，同音字引發(fā)的錯誤記憶顯著高于同聲字、同韻字和無關(guān)字，但同聲字