電子散斑干涉三維調(diào)制變形測量研究.pdf

1、電子散斑干涉測量技術(shù)是在激光出現(xiàn)以后迅速發(fā)展起來的光學測量技術(shù)。此項技術(shù)利用條紋分析的原理對物體變形進行測量，實現(xiàn)對物體的無損檢測，具有全場、非接觸、精度高的優(yōu)點，近二十年來已成為變形場測量的重要方法，應用在不同的領(lǐng)域中。隨著工業(yè)和生產(chǎn)的發(fā)展以及測量器件精度不斷提高，電子散斑干涉測量逐漸向三維、高精度、實時方向發(fā)展，因此應用電子散斑干涉測量技術(shù)如何實現(xiàn)物體三維變形的高精度測量成為當下的重要課題。
　　電子散斑干涉三維調(diào)制變形測量是

2、測量物體變形的重要方法，具有電子散斑干涉的所有優(yōu)點，并具有光路簡單、易于操作、對環(huán)境要求低、成本低廉等優(yōu)點。本文就電子散斑干涉三維調(diào)制變形測量的原理、操作方法進行了討論。論文主要內(nèi)容如下:
　　1.介紹了散斑的成因、產(chǎn)生方法及相關(guān)概念；回顧了散斑干涉計量的起源與發(fā)展；系統(tǒng)介紹了電子散斑干涉三維測量的現(xiàn)狀和發(fā)展方向。
　　2.回顧了電子散斑干涉測量的發(fā)展過程，介紹了幾種電子散斑干涉測量的方法和原理，并介紹了圖像處理技術(shù)；說明了

3、電子散斑干涉載頻調(diào)制的由來和發(fā)展應用前景。
　　3.討論了電子散斑干涉變形測量的方法、原理及圖像處理的方法，介紹了基于沃拉斯頓棱鏡的變形測量電子散斑干涉術(shù)，并討論了新型方棱鏡的工作原理；介紹了電子散斑干涉三維變形測量的原理方法以及應用前景，
　　4.基于新型方棱鏡，應用電子散斑干涉三維調(diào)制變形測量方法對簡支梁做了變形測量，通過一次調(diào)制和變形獲得圖像，并用傅里葉變換方法解調(diào)出簡支梁變形的面內(nèi)位移、離面位移分量；該方法光路簡單、