基于FPGA的ⅡC在線測試系統(tǒng).pdf

1、隨著半導(dǎo)體工藝設(shè)計規(guī)模的不斷增加，芯片的集成度和復(fù)雜度不斷增大，芯片的測試變得復(fù)雜而耗時，這將嚴(yán)重阻礙半導(dǎo)體行業(yè)的發(fā)展。在集成電路領(lǐng)域中，芯片的測試占據(jù)整個芯片開發(fā)周期的70％以上。因此，快速精確實現(xiàn)對芯片的測試己成為我們急需解決的問題。
　　傳統(tǒng)的芯片測試主要依靠示波器和信號發(fā)生器等測試儀器，通過人手工實現(xiàn)對芯片的各個接口進(jìn)行測試，市場上的示波器和信號發(fā)生器并不是針對芯片測試領(lǐng)域而設(shè)計的，因而這種測試方法測試項單一，測試流程復(fù)雜

2、、耗時?，F(xiàn)有的EDA驗證軟件的驗證功能往往很局限，根本無法滿足大規(guī)模的集成電路測試要求。因此，本文提出的是一種基于FPGA平臺的ⅡC在線測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)率先通過設(shè)計碼型發(fā)送器與碼型接收器實現(xiàn)對芯片ⅡC總線接口的測試，該系統(tǒng)的測試項達(dá)二十多項，測試項全面，并且測試的工作量大大減少。整個測試流程在PC機通過使用TCL腳本控制系統(tǒng)工作，實現(xiàn)測試全自動化，在線得到測試結(jié)果。該系統(tǒng)測試準(zhǔn)確可靠并且完全擺脫對示波器、信號發(fā)生器等測試儀器的依懶，不僅

3、能夠?qū)崿F(xiàn)ⅡC波形的重現(xiàn)，并且能夠得到精確的測試結(jié)果。
　　本文通過對5560X芯片的ⅡC接口的成功測試，證實了本系統(tǒng)的準(zhǔn)確性和可行性。本文目前雖然只支持ⅡC接口的測試，但在其設(shè)計初期已將各類總線的測試考慮在內(nèi)，如SPI、LOCALBUS和MDIO總線等。本系統(tǒng)具很強的擴展性，并且設(shè)計思路新穎，系統(tǒng)在設(shè)計初期并沒有將各類總線特殊化，而是將各類總線根據(jù)其通信的信號線數(shù)進(jìn)行劃分，采用碼型多變，硬件設(shè)計模塊少變的方法實現(xiàn)對各類總線的測試。