基于DMX512協(xié)議的LED解碼芯片驗證技術研究.pdf

1、近年來，集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)生了翻天覆地的變化。隨著制造工藝進入納米階段，芯片的速度和集成度不斷上升，由此引發(fā)的芯片功能驗證問題日益顯著。芯片的驗證技術影響著芯片的性能、成本和設計周期，在一定程度上決定了芯片在市場中的生存能力，因此驗證技術的提高已成為IC設計者重點關注的熱點問題之一。
　　本文從芯片驗證方法的發(fā)展歷程出發(fā)，探討目前功能驗證技術的分類及各自優(yōu)缺點。形式驗證主要采用靜態(tài)形式驗證方法，適合小規(guī)模組合電路測試；FPGA驗證雖能

2、進行軟硬結合仿真，但信號可視性較差；仿真性功能驗證由于其自身動態(tài)驗證的特點，已成為IC驗證的主流方法之一。其中，基于功能覆蓋率驅動的驗證方式能提高仿真性功能驗證的完備性和可靠性，但提高效率還得取決于隨機向量的生成。針對此問題，本文提出一種基于遺傳算法的測試激勵生成技術，對基于DMX512協(xié)議的LED解碼芯片進行仿真性功能驗證，加速功能覆蓋率收斂速度，有效提高驗證效率。
　　本文具體分析研究，主要包括以下幾方面:
　　第一，對

3、基于DMX512協(xié)議的LED解碼芯片進行設計分析，特別是對驗證對象——DMX512解碼模塊的內(nèi)部架構、數(shù)據(jù)幀、時序等特點進行詳細研究，通過分析驗證對象特點提取關鍵信息，制定相應的驗證計劃。
　　第二，簡要介紹遺傳算法在功能覆蓋率收斂上的應用，詳細分析遺傳算法中適應度函數(shù)和三大遺傳算子的選取方法，利用概率分布函數(shù)分析各遺傳算子在本文應用中的優(yōu)越性，得到基于比例選擇算子、均勻交叉算子和二元變異算子的優(yōu)秀遺傳算法。
　　第三，根據(jù)