硬件測(cè)試筆試題v1附答案

1、硬件測(cè)試工程師筆試題硬件測(cè)試工程師筆試題（本試卷滿(mǎn)分100分，請(qǐng)將答案寫(xiě)在答題卡上與試卷一并上交）姓名：日期：分?jǐn)?shù)：一一判斷題：判斷題：本題共10小題，每題2分，共20分。1.發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤多的模塊，殘留在模塊中的錯(cuò)誤也多。()2.測(cè)試人員在測(cè)試過(guò)程中發(fā)現(xiàn)一處問(wèn)題，如果問(wèn)題影響不大，而自己又可以修改，應(yīng)立即將此問(wèn)題正確修改，以加快、提高開(kāi)發(fā)的進(jìn)程。（）3.功能測(cè)試是系統(tǒng)測(cè)試的主要內(nèi)容，檢查系統(tǒng)的功能、性能是否與需求規(guī)格說(shuō)明相同。（）4.編寫(xiě)測(cè)

2、試計(jì)劃的目的是：使測(cè)試工作順利進(jìn)行，使項(xiàng)目參與人員溝通更舒暢，使測(cè)試工作更加系統(tǒng)化。（）5.硬件測(cè)試目的是杜絕產(chǎn)品硬件上無(wú)任何問(wèn)題。（）6.驗(yàn)收測(cè)試是由最終用戶(hù)來(lái)實(shí)施的。（）7.鉭電容最適合用來(lái)濾除高頻噪音。（）8.負(fù)載測(cè)試是驗(yàn)證要檢驗(yàn)的系統(tǒng)的能力最高能達(dá)到什么程度。（）9.無(wú)線電監(jiān)測(cè)中，常用一些單位有dBuv、dBm等，dBm是功率單位。（）10.10W功率可由40dBm表示。（）二二選擇題選擇題（不定向選擇）：本題共10小題，每題4

3、分，共40分。1.常見(jiàn)的信號(hào)完整性問(wèn)題有：（）A過(guò)沖B反射C震蕩D環(huán)繞2.下列屬于產(chǎn)品可靠性指標(biāo)的是：（）A失效率B平均壽命C直通率D可靠度E維修度3.SRAM中文名稱(chēng)是：（）A動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器B動(dòng)態(tài)C靜態(tài)D靜態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器4.以下幾種可以做為硬件測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的輸入：（）A用戶(hù)需求B國(guó)標(biāo)C產(chǎn)品規(guī)格D硬件測(cè)試工程師經(jīng)驗(yàn)5.穩(wěn)壓管通常工作于（），來(lái)穩(wěn)定直流輸出電壓A截止區(qū)B正向?qū)▍^(qū)C反向擊穿區(qū)6.已知如圖所示放大電路中的RB=100kΩ，RC=1

4、.5kΩ，Vcc=12V晶體管的β=80，UBE=0.6V。則可以判定，該晶體管處于（）非門(mén)和與非門(mén)代入即可。）硬件測(cè)試工程師筆試題答案硬件測(cè)試工程師筆試題答案五五判斷題：判斷題：本題共10小題，每題2分，共20分。11.√12.13.√14.√15.16.17.18.19.√20.√六六選擇題選擇題（不定向選擇）：本題共10小題，每題4分，共40分。11.ABCD12.ABDE13.D14.ABC15.C16.B17.C18.B19.

5、A20.ABCD七七簡(jiǎn)答題：簡(jiǎn)答題：本題共6小題，每題5分，共30分。7.略8.略9.電壓并聯(lián)反饋，電流串聯(lián)反饋，電壓串聯(lián)反饋和電流并聯(lián)反饋降低放大器的增益靈敏度，改變輸入電阻和輸出電阻，改善放大器的線性和非線性失真，有效地?cái)U(kuò)展，放大器的通頻帶，自動(dòng)調(diào)節(jié)作用10.基爾霍夫定律包括電流定律和電壓定律。電流定律：在集總電路中，任何時(shí)刻，對(duì)任一節(jié)點(diǎn)，所有流出節(jié)點(diǎn)的支路電流代數(shù)和恒等于零。電壓定律：在集總電路中，任何時(shí)刻，沿任一回路，所有支路電