ic內(nèi)置熔絲熔斷方法

1、電源招聘專家IC內(nèi)置熔絲熔斷方法內(nèi)置熔絲熔斷方法1引言引言某些計量電路為了防止工藝上電阻溫度階溫度因子的偏差，采用了熔絲結(jié)構(gòu)以得到更精確的基準。在圓片測試時，可以根據(jù)電路實際基準點在一定范圍內(nèi)進行調(diào)整，使出廠電路的基準更加精確，一致性更好?？膳渲眯砸彩前雽w發(fā)展的一個方向。對于可編程電路，可根據(jù)市場的需求燒熔絲編程，使電路具有更強的適應性，而且熔絲是一次性編程，具有更強的安全性。一個優(yōu)秀的測試程序應當有明顯的模塊化，簡明有效、邏輯性強。

2、這樣的程序便于他人閱讀理解和相互交流，也有利于調(diào)試過程中的修改調(diào)整。2熔絲熔斷的硬件設計熔絲熔斷的硬件設計2.1硬件設計原理熔絲是集成電路生產(chǎn)中所使用的一項重要技術(shù)。熔絲的結(jié)構(gòu)如圖1。熔絲可以用金屬(鋁、銅等)或硅制成。熔斷熔絲需要較大的瞬間電流。具體所需電流，根據(jù)實際條寬和厚度而不盡相同，一般通常是幾百毫安。如此大的電流對測試儀的PE板很容易造成損傷，況且并不是所有測試儀的PE板都具備這樣的電流驅(qū)動能力。為了能提供足夠大的瞬問電流，又

3、保護PE卡不受損，我們設計的硬件方案使熔絲引線不接入測試儀的通道，而通過電容放電來提供熔斷熔絲所需的瞬間大電流。電容的充電、放電由繼電器來控制，而續(xù)電器的開啟、閉合由測試儀通道(所選擇通道由用戶根據(jù)需要任意定義)提供電壓來控制。原理圖如圖2。在通常情況下，CH33和CH34默認值為0.0V。繼電器RELAY1和RELAY2不工作。此時電容電源招聘專家3.2傳統(tǒng)方法在對芯片進行測試時，根據(jù)實際測得的頻率值選擇相應的熔絲方案，燒斷所對應的熔