2 幾何量測(cè)量基礎(chǔ)

1、2幾何量測(cè)量基礎(chǔ)一、填空題：1、測(cè)量是將被測(cè)（幾何量）與作為計(jì)量單位的（標(biāo)準(zhǔn)量）進(jìn)行比較，從而確定兩者（比值）的過程。2、一個(gè)完整的測(cè)量過程包含的四個(gè)要素是：（被測(cè)對(duì)象）、（計(jì)量單位）、（測(cè)量方法）和（測(cè)量精度）。3、量塊按“級(jí)”使用時(shí)，應(yīng)以量塊的標(biāo)稱長(zhǎng)度作為（工作尺寸），該尺寸包含了量塊的（制造誤差）。4、量塊按“等”使用時(shí)，應(yīng)以經(jīng)檢定后所給出的量塊的中心長(zhǎng)度的實(shí)際尺寸作為（工作尺寸），該尺寸排除了量塊的（制造誤差）的影響，僅包含檢定

2、時(shí)的較小的（測(cè)量誤差）。5、量塊按“等”使用的測(cè)量精度比按“級(jí)”使用的（高）。6、計(jì)量器具按其本身的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)進(jìn)行分類可分為：（量具）、（量規(guī)）、（計(jì)量?jī)x器）和（計(jì)量裝置）。7、測(cè)量方法按計(jì)量器具示值是否為被測(cè)幾何量的量值分為（絕對(duì)測(cè)量）和（相對(duì)測(cè)量）。8、我們?cè)谟霉馇酗@微鏡測(cè)量表面粗糙度時(shí)用的測(cè)量方法為（間接測(cè)量法）。9、按測(cè)量方法分類，用游標(biāo)卡尺測(cè)量軸的直徑屬于（直接）測(cè)量，（絕對(duì)）測(cè)量以及（接觸）測(cè)量。10、測(cè)量誤差是指被測(cè)量的（實(shí)

3、際測(cè)得值）與其（真值）之差。11、測(cè)量誤差產(chǎn)生的原因主要有：（計(jì)量器具誤差）、（方法誤差）、（環(huán)境誤差）和（人員誤差）。12、測(cè)量誤差按其性質(zhì)和特點(diǎn)，可分為（隨機(jī)）誤差，（系統(tǒng)）誤差和（粗大）誤差等三種。13、正態(tài)分布曲線中，標(biāo)準(zhǔn)偏差σ決定了分布曲線的（分散程度），決定了分布曲線的x（位置）。1、測(cè)量誤差按其特性可分為(隨機(jī)誤差隨機(jī)誤差)，(系統(tǒng)誤差系統(tǒng)誤差)和(粗大誤差粗大誤差)三類。2、測(cè)量誤差產(chǎn)生的原因可歸納為(計(jì)量器具誤差計(jì)量器

4、具誤差)，(方法誤差方法誤差)，(環(huán)境誤差環(huán)境誤差)和(人員誤差人員誤差)。3、隨機(jī)誤差通常服從正態(tài)分布規(guī)律。具有以下基本特性：(單峰性單峰性)，(對(duì)稱性對(duì)稱性)，(有界性有界性)，(抵償性抵償性)。4、系統(tǒng)誤差可用(修正法修正法)，(抵償法抵償法)等方法消除。5、被測(cè)量的真值一般是不知道的，在實(shí)際測(cè)量中，常用(算術(shù)平均值算術(shù)平均值)代替。7、測(cè)量器具的分度值是指(相鄰兩刻線所代表的量值之差相鄰兩刻線所代表的量值之差)，千分尺的分度值是

5、(0.010.01mmmm)。8、測(cè)量器具的測(cè)量范圍是指(在允許的誤差限內(nèi)計(jì)量器具的被測(cè)量值的范圍在允許的誤差限內(nèi)計(jì)量器具的被測(cè)量值的范圍)，測(cè)量直徑為φ33mm的軸徑所用外徑千分尺的測(cè)量范圍是(2525～5050)mm9、量塊的研合性是指(量塊的一個(gè)測(cè)量面與另一量塊的測(cè)量面或另一經(jīng)精密加工的類似的量塊的一個(gè)測(cè)量面與另一量塊的測(cè)量面或另一經(jīng)精密加工的類似的平面，通過分子吸力作用而粘合的性能平面，通過分子吸力作用而粘合的性能)。10、在實(shí)

6、際使用中，量塊按級(jí)使用時(shí)，量塊的尺寸為標(biāo)稱尺寸，忽略其(制造誤差制造誤差)；按等3、用立式光學(xué)比較儀測(cè)量Φ25m6軸的方法屬于（B）。A、絕對(duì)測(cè)量B、相對(duì)測(cè)量C、綜合測(cè)量D、主動(dòng)測(cè)量4、用光切（雙管）顯微鏡測(cè)量表面粗糙度輪廓幅值參數(shù)Rz的方法屬于（C）。A、綜合測(cè)量法B、直接測(cè)量法C、非接觸測(cè)量法D、接觸測(cè)量法5、用萬能臥式測(cè)長(zhǎng)儀測(cè)量孔的直徑的測(cè)量方法屬于（A）。A絕對(duì)測(cè)量B相對(duì)測(cè)量C綜合測(cè)量D非接觸測(cè)量6、下列測(cè)量中屬于相對(duì)測(cè)量的有（

7、B）。A、用千分尺測(cè)外徑B、用光學(xué)比較儀測(cè)外徑C、用內(nèi)徑百分表測(cè)內(nèi)徑D、用內(nèi)徑千分尺測(cè)量?jī)?nèi)徑E、用游標(biāo)卡尺測(cè)外徑7、測(cè)量?jī)蓚€(gè)直徑分別為200mm和100mm的孔，大孔的測(cè)量絕對(duì)誤差0.02mm，小孔的測(cè)量絕對(duì)誤差0.01mm，兩個(gè)孔的測(cè)量精度相比較，（C）。A、大孔較高B、小孔較高C、兩者相同D、無從比較8、測(cè)量工件時(shí)，由于測(cè)量溫度變化產(chǎn)生的測(cè)量誤差屬于（D）。A、計(jì)量器具誤差B、方法誤差C、人為誤差D、環(huán)境誤差9、在測(cè)量條件不變的情況

8、下，對(duì)某尺寸重復(fù)測(cè)量4次，計(jì)算得到單次測(cè)量值的標(biāo)準(zhǔn)偏差為6um，則用4次測(cè)量值的平均值表示測(cè)量結(jié)果的測(cè)量極限誤差為（B）。A4.5umB9umC12umD18um10、對(duì)某幾何量等精度測(cè)量16次，得到一測(cè)量列，單次測(cè)量值的標(biāo)準(zhǔn)偏差為8um，則該測(cè)量列的算術(shù)平均值的測(cè)量極限誤差為（D）。A24umB6umC24umD6um11、取多次重復(fù)測(cè)量的平均值來表示測(cè)量結(jié)果可以減少（C）。A定值系統(tǒng)誤差B變值系統(tǒng)誤差C隨機(jī)誤差D粗大誤差12、含有下

9、列哪項(xiàng)誤差的測(cè)得值應(yīng)該按一定的規(guī)則，從一系列測(cè)得值中予以剔除（D）。A定值系統(tǒng)誤差B變值系統(tǒng)誤差C隨機(jī)誤差D粗大誤差13、對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行處理時(shí)，正常情況下，應(yīng)將（A）予以剔除。A、粗大誤差B、隨機(jī)誤差C、系統(tǒng)誤差D、三種誤差14、粗大誤差使測(cè)量結(jié)果嚴(yán)重失真，對(duì)于等精度多次測(cè)量值中，凡是測(cè)量值與算術(shù)平均值之差絕對(duì)值大于標(biāo)準(zhǔn)偏差σ的（C）倍，即認(rèn)為該測(cè)量值具有粗大誤差，即應(yīng)從測(cè)量列中將其剔除。A1B2C3D41、下列測(cè)量中屬于間接測(cè)量的有(