SATA內(nèi)建自測(cè)試的電路設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf_第1頁(yè)
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1、Serial ATA即串行ATA是一種完全不同于并行ATA的新型硬盤接口類型，由于采用串行方式傳輸數(shù)據(jù)而知名。內(nèi)建自測(cè)試BIST技術(shù)通過(guò)在芯片內(nèi)部集成少量的邏輯電路實(shí)現(xiàn)對(duì)集成電路的測(cè)試，被認(rèn)為是解決測(cè)試儀器開(kāi)發(fā)周期長(zhǎng)且復(fù)雜，費(fèi)用也極為昂貴的有效方法之一。本文基于中芯國(guó)際設(shè)計(jì)服務(wù)處串行ATA組科研項(xiàng)目“SMIC 0.13μm CMOS工藝高速串行ATA的研究與設(shè)計(jì)”，通過(guò)對(duì)傳統(tǒng)的內(nèi)建自測(cè)試技術(shù)、SATA及其物理層的介紹，提出了SATA內(nèi)建

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