深亞微米工藝下串擾優(yōu)化的布線算法分析與實現(xiàn).pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著超大規(guī)模集成電路向深亞微米工藝的發(fā)展,高速度、高集成度、低功耗成為當今集成電路的主要特點。設計如此高性能的芯片使我們面臨新的挑戰(zhàn),總結起來有兩點:速度越來越快,尺寸越來越?。幌到y(tǒng)越來越復雜,同時要求系統(tǒng)更加穩(wěn)定。這使得在低速系統(tǒng)設計中的二級效應上升為主要矛盾,其中的信號完整性問題成為最突出的因素之一。 隨著集成電路工藝尺寸的減小,互連線之間靠的更近。此外線寬的減小,也使得線間距相對于厚度越來越小,如同一堵又高又窄的墻,線間的

2、耦合電容甚至超過了它們的對地電容。耦合電容對電路的影響主要表現(xiàn)在兩個方面:耦合電容引起串擾噪聲(crosstalk noise),嚴重的時候會造成鄰近線網(wǎng)上傳播的信號出現(xiàn)邏輯錯誤;耦合電容引起串擾時延(crosstalk delay),增大了信號傳播的時間延遲,造成setup time violation或者hold time violation。正是上述原因,人們在不斷的研究減小串擾的布線算法。 文中,我們首先分析了計算串擾延

3、遲和串擾噪聲的數(shù)學模型。隨后在分析比較減小串擾的非曼哈頓結構布線算法及曼哈頓結構布線算法的基礎上,提出一種無網(wǎng)格減小串擾的布線算法,該算法基于把水平網(wǎng)段分為各子段,以取得更好的攝動效果。我們詳細分析了算法的數(shù)學模型、實現(xiàn)過程及算法的時間復雜度和空間復雜度,認為它是可行的。我們可以看到實現(xiàn)的算法同時考慮了垂直網(wǎng)段和水平網(wǎng)段對串擾的影響,在取得較好的優(yōu)化結果的同時,其執(zhí)行速度相比較文獻中的算法快很多。最后我們從兩個不同方面對實現(xiàn)的算法作了測

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