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文檔簡(jiǎn)介
1、本文深入研究了X射線透過(guò)物質(zhì)時(shí)的衰減規(guī)律及X射線測(cè)厚儀的測(cè)量原理和方法。根據(jù)性能指標(biāo)的預(yù)期目標(biāo)對(duì)測(cè)量方案進(jìn)行了總體設(shè)計(jì),并對(duì)X射線測(cè)厚儀的主要部件進(jìn)行了選型。
在硬件電路設(shè)計(jì)上,為了提高系統(tǒng)的分辨率,在前端電路板設(shè)計(jì)了4路模擬電路通道,并對(duì)各種干擾源進(jìn)行了屏蔽及過(guò)濾,大大提高了X射線測(cè)厚儀的測(cè)量范圍。信號(hào)處理板以16位,1M采樣速率的AD轉(zhuǎn)換芯片及ARM7處理器為核心,對(duì)模擬信號(hào)進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換及進(jìn)行初步的數(shù)字信號(hào)處理,同時(shí)
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