存儲(chǔ)陣列兼容性測(cè)試的研究.pdf

1、近年來(lái)，隨著信息技術(shù)的發(fā)展，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)量持續(xù)增長(zhǎng)。專家們認(rèn)為，目前信息技術(shù)已經(jīng)進(jìn)入以存儲(chǔ)為核心的發(fā)展階段。隨著存儲(chǔ)軟硬件規(guī)模的擴(kuò)大，存儲(chǔ)設(shè)備的兼容性問(wèn)題成為目前用戶最關(guān)心的問(wèn)題。存儲(chǔ)產(chǎn)品兼容性測(cè)試的需求日益突出。 當(dāng)前對(duì)存儲(chǔ)兼容性測(cè)試進(jìn)行研究，有助于對(duì)存儲(chǔ)兼容性測(cè)試進(jìn)行全面了解，提升存儲(chǔ)兼容性測(cè)試的質(zhì)量。兼容性測(cè)試雖然無(wú)法做到完全的質(zhì)量保證，但兼容性測(cè)試是存儲(chǔ)產(chǎn)品測(cè)試必不可少的重要步驟之一。因此，對(duì)存儲(chǔ)產(chǎn)品來(lái)說(shuō)，忽視其兼容性測(cè)試，

2、必將會(huì)導(dǎo)致用戶在使用時(shí)因兼容性出現(xiàn)故障的概率較高。所以，如何在有限的成本和資源考慮下，針對(duì)產(chǎn)品規(guī)劃出適當(dāng)?shù)募嫒菪詼y(cè)試，是所有兼容性測(cè)試技術(shù)人員關(guān)注的重點(diǎn)。 本文在“存儲(chǔ)解決方案與兼容性測(cè)試”項(xiàng)目的支持下，對(duì)存儲(chǔ)基本兼容性和vxVM兼容性測(cè)試進(jìn)行了詳細(xì)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)，并提出了兩種快速有效的故障診斷策略。本文的主要研究?jī)?nèi)容如下： (1)針對(duì)存儲(chǔ)產(chǎn)品的應(yīng)用特點(diǎn)，分析了其兼容性測(cè)試需求，制定了基本兼容性測(cè)試用例設(shè)計(jì)框架，并使用配對(duì)組

3、合覆蓋技術(shù)設(shè)計(jì)了基本兼容性的測(cè)試案例。該方法可生成最小組合覆蓋測(cè)試案例集，從而大大降低測(cè)試成本，提高測(cè)試效率。 (2)針對(duì)存儲(chǔ)兼容性測(cè)試缺陷定位難的問(wèn)題，提出了兩種故障診斷策略。一種是基于最小組合覆蓋集的故障診斷策略，適用于多個(gè)案例發(fā)生同種故障的情形；一種是基于模糊聚類的故障診斷策略，可以充分利用歷史上的測(cè)試數(shù)據(jù)來(lái)進(jìn)行快速的故障診斷定位。 (3)實(shí)例分析存儲(chǔ)基本兼容性測(cè)試，根據(jù)問(wèn)題的嚴(yán)重程度對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，實(shí)驗(yàn)證