存儲(chǔ)測(cè)試專用集成電路成測(cè)技術(shù)研究.pdf

1、本文主要討論了存儲(chǔ)測(cè)試專用集成電路的檢測(cè)。對(duì)專用集成電路的功能、研制的意義以及專用集成電路的國(guó)內(nèi)外現(xiàn)狀進(jìn)行了較為詳細(xì)的介紹。文中提出了一種模擬數(shù)字混合、計(jì)算機(jī)人機(jī)交互的檢測(cè)方法，根據(jù)ASIC的各功能模塊，建立了相應(yīng)的ASIC芯片的成測(cè)方案。在檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)部分討論了如適配器的設(shè)計(jì)、頻率檢測(cè)模塊的設(shè)計(jì)等，同時(shí)對(duì)檢測(cè)系統(tǒng)的軟件進(jìn)行了分析設(shè)計(jì)。在檢測(cè)部分對(duì)集成電路的檢測(cè)作了說(shuō)明，利用設(shè)計(jì)的檢測(cè)系統(tǒng)按照檢測(cè)步驟對(duì)專用集成電路的全部參數(shù)成功進(jìn)行了檢

2、測(cè)。文中還介紹了數(shù)字專用集成電路在存儲(chǔ)測(cè)試領(lǐng)域的應(yīng)用。對(duì)利用專用集成電路的存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行了包括電荷放大器、模擬濾波器、電路抗干擾等的設(shè)計(jì)。采用專用集成電路HB0201設(shè)計(jì)的存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)能獨(dú)立地完成動(dòng)態(tài)數(shù)據(jù)采集與存儲(chǔ)記憶，能在多種惡劣環(huán)境及高難度的存儲(chǔ)測(cè)試環(huán)境中使用。專用集成電路的使用減小了測(cè)試裝置體積，降低了系統(tǒng)功耗，提高了測(cè)試系統(tǒng)的可靠性。HB0201與HB0202的研制提高了存儲(chǔ)測(cè)試技術(shù)的水平，具有很高的實(shí)用價(jià)值。 此外，