基于視覺(jué)檢測(cè)的圓度誤差測(cè)量技術(shù)研究.pdf_第1頁(yè)
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1、圓度誤差是一項(xiàng)比較科學(xué)、先進(jìn)的評(píng)定零件表面質(zhì)量的指標(biāo),它能客觀直接的反映圓柱面的旋轉(zhuǎn)精度。由于圓度誤差是實(shí)際輪廓相對(duì)于理想圓而確定的,所以被測(cè)量軸徑截面的實(shí)際輪廓的精確測(cè)量,是求圓度誤差的重要組成部分。
  本文測(cè)量的對(duì)象是直徑為120mm、長(zhǎng)90mm的超精密回轉(zhuǎn)主軸。在深入研究零件圓度誤差的測(cè)量理論和測(cè)量方法的基礎(chǔ)上,采用V形塊立式測(cè)量法,并利用精密干涉儀結(jié)合CMOS圖像傳感器,進(jìn)行了圖像采集、處理與分析,成功讀取了圖像信息,并

2、將之轉(zhuǎn)換成有效的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),完成了對(duì)回轉(zhuǎn)主軸圓度誤差的測(cè)量。
  首先,從理論上說(shuō)明了圓度誤差常用的測(cè)量方法及測(cè)量中心的評(píng)定方法,闡述了最小二乘圓評(píng)定方法在V形塊測(cè)量中的數(shù)學(xué)實(shí)現(xiàn),并說(shuō)明了實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的處理方法——誤差聯(lián)系法的運(yùn)用。
  其次,完成了超精密主軸圓度誤差測(cè)量系統(tǒng)的設(shè)計(jì),對(duì)圖像采集系統(tǒng)進(jìn)行了調(diào)試。根據(jù)本文采集的干涉條紋圖像的特性,運(yùn)用圖像灰度值列求和的方法,求出了干涉儀測(cè)頭的實(shí)際位移。
  提出了適合本課題的圖像

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