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1、北京工業(yè)大學碩士學位論文MCM多層互連基板及膜電阻可靠性研究姓名:周仲蓉申請學位級別:碩士專業(yè):微電子學與固體電子學指導教師:李志國20031201北京工業(yè)大學工學碩士學位論文AbstractThankstOitsadvantagessuchassmallvolume,lightweightandgoodperformance,Multi—chipModule(MCM)hasdrawnespecialattentionandhasext
2、ensiveapplicationsinelectronics,medication,spaceflight,automobileandtelecommunicationSynchronouslythereliabilityofMCMbecomesoneofresearchfocusesinternationallyThispapermainlystudiesthereliabilityofsubstratesofMCM—Cinclud
3、ingthick—filmresistors,metallinesmadviasforinterconnectionThreetypesofLTCC(LowtemperatureCO—fired)substrateswithdifferentlayers5,10and15weredesignedandmadeOntopofthesubstrateslocatethreekindsofresistorswithdifferentresis
4、tances10ohm,10Kohmand100Kohm,andmetallinesandviasareusedforinterconnectionbetweenlayersInthewholeexperiment,resistanceofresistorsandlinesisourtestingparameterTheexperimentcontainstwosections,oneiscomparisonexperimentunde
5、rextremestresses(CEES),andtheotherislife—acceleratedexperimentwithdualstresses(LAEDS)CEESFollowsthemethod1010AinGJB5489,thatis,samplesareconductedtemperaturecyclingexperimentontemperatureconditionfrom一65。Cto1750CWhileLAE
6、DSconductsexperimentundertwotemperatures2000Cand230。C,eachtemperatureswithtwovoltagestresses16/60Vand12/45VWithstatisticaltheorythispaperfirstcarriesouttestofgoodnessoffixonlifedistribution,withtheresultsthatwecarlaccept
7、thehypothesisthatthelifeofthick—filmresistorsobeysWeibultdistributionThenBestLinearUnbiasedEstimation(BLUE)isusedtofigureoutthedistributionalparameters,thereaftersomelifeparameterssuchasaveragelifeandcharacteristiclifeca
8、nbeavailableFromtheexperimentaldataundertwodifferentvoltagestresseselectricaccelerationcoefficientiscalculatedthenanti—powerlawcoefficientisfiguredoutFromtheexperimentaldataundertWOdifferenttemperaturesactivationenergyis
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