16位1MS-s CMOS SAR A-D轉(zhuǎn)換器設(shè)計及校準(zhǔn)技術(shù).pdf_第1頁
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文檔簡介

1、逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器(SAR ADC)由于其結(jié)構(gòu)簡單、功耗低、面積小、易集成等特點,在中等速率、中至高等精度應(yīng)用場合受到了廣泛的青睞。為了滿足精密儀表、醫(yī)療設(shè)備和工業(yè)成像等應(yīng)用對高精度和低功耗ADC的需要,高精度SAR ADC的低功耗設(shè)計顯得尤為重要。而影響SAR ADC精度的主要因素是電容的匹配性,因此為了實現(xiàn)高精度的SAR ADC,必須對電容的失配采取一定形式的校準(zhǔn)技術(shù)。傳統(tǒng)的校準(zhǔn)方式都是由模擬電路來實現(xiàn)的,而隨著CMOS工藝的不斷

2、提高數(shù)字電路在速度、集成度和面積方面有很大的優(yōu)勢,如果校準(zhǔn)技術(shù)能用數(shù)字電路實現(xiàn)將帶來很大的好處。
　　論文首先提出了一種用于實現(xiàn)高精度SAR ADC的新型分段結(jié)構(gòu)。研究了分段結(jié)構(gòu)二進(jìn)制電容網(wǎng)絡(luò)中寄生電容和電容失配對ADC性能的影響,并在Matlab中建立了行為級模型,仿真驗證和理論推導(dǎo)一致。同時,詳細(xì)分析了高精度比較器的實現(xiàn)以及失調(diào)電壓。然后在Cadence中基于TSMC0.18μm CMOS工藝設(shè)計了一種16位1MS/s SAR

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