硬盤可靠性強化試驗技術(shù)研究.pdf

1、隨著硬盤技術(shù)的突飛猛進，硬盤產(chǎn)品越來越趨向于大容量、高精密、快速度的方向發(fā)展，其中硬盤碟片的磁密度越來越大，用戶對環(huán)境適應性要求越來越高，而產(chǎn)品的體積卻越做越小，硬盤系統(tǒng)的可靠性已經(jīng)逐漸成為提高產(chǎn)品質(zhì)量的瓶頸。因此如何解決產(chǎn)品可靠性的強化測試，使硬盤生產(chǎn)廠商能在出給客戶前更快更好更準確的篩選出有潛在故障風險的產(chǎn)品，已經(jīng)成為了硬盤加工過程中的一項重要的課題。
　　本文基于可靠性基礎理論，討論了幾種可靠性增長模型和可靠性加速模型,針對

2、硬盤產(chǎn)品本身特性并結(jié)合長期的生產(chǎn)實踐經(jīng)驗,制定了硬盤可靠性框圖和故障樹，針對本公司M8硬盤的產(chǎn)品，設計了系列的可靠性強化試驗，對影響硬盤特性的溫度濕度振動等因素進行了分別研究，并對各影響因子進行了單獨的驗證和綜合影響驗證，找到了適合M8硬盤可靠性強化的試驗的系列參數(shù)，并在公司M8硬盤的批量化生產(chǎn)中進行了大規(guī)模較長期的跟蹤測試和實踐驗證，驗證結(jié)果表明，可靠性強化試驗可以激發(fā)出更多的潛在產(chǎn)品故障，為進一步產(chǎn)品改進和出貨品質(zhì)保證提供依據(jù)。應用