CJTAG測試控制器的研究設(shè)計.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著待測芯片的集成度越來越高，單芯片多核設(shè)計、片上系統(tǒng)和疊層裸片技術(shù)等成為芯片設(shè)計的主流技術(shù)，JTAG已很難滿足芯片設(shè)計對測試與調(diào)試的要求。CJTAG在保持與JTAG兼容的基礎(chǔ)上增加了新功能，提供了一種全新的雙引腳測試與調(diào)試方法。目前對CJTAG的研究尚處于起步階段，所以構(gòu)建相關(guān)的測試系統(tǒng)對今后CJTAG的發(fā)展具有重要的意義。
　　本文在深入研究IEEE1149.7標準的基礎(chǔ)上，針對芯片的測試問題設(shè)計了CJTAG測試控制器。該控制

2、器以CJTAG的六個功能層級為理論依據(jù)，給出了一種可擴展的設(shè)計方案。由于T2層級的芯片旁路掃描功能和T5層級的后臺數(shù)據(jù)傳輸功能對解決芯片的調(diào)試問題更具優(yōu)勢，故該控制器主要實現(xiàn)了TO、Tl、T3和T4層級的主要功能。本文所設(shè)計的CJTAG測試控制器由五個子模塊和一個頂層模塊構(gòu)成：基本測試控制模塊，以TAP.7控制器的狀態(tài)轉(zhuǎn)換圖為基礎(chǔ)實現(xiàn)TO層級的串行掃描拓撲；選擇機制控制模塊，以逃脫和警報為基礎(chǔ)實現(xiàn)TO層級的選擇序列；命令控制模塊，以零位

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