雙狹縫掃描光束質量分析系統(tǒng)設計.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著激光越來越廣泛的應用，激光光斑功率，光束質量因子與描述光束質量的其他參數(shù)的測量己成為熱門課題，而目前國內對于激光各個參數(shù)的測量，雖然已經(jīng)研發(fā)出完整的成套測量系統(tǒng)，但是大多用于研發(fā)領域，還未出現(xiàn)可以簡單快速且可被廣泛工業(yè)化的激光光束測量系統(tǒng)。
　　如今對激光光束質量的測量方法，測量速度與測量精度無法同時兼顧。為了兼顧測量速度與精度的目的，提出了雙狹縫掃描法。因為此方法不需要在光路中使用衰減器，降低了數(shù)據(jù)分析復雜度。選用嵌入式技術

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